EN | RU    
Издательство научно-технической литературы
Поиск по сайту:

На главную»

Контакты»

Журналы»

Новости»

Оформление статей»

Реклама в журналах»

Обратная связь»

Книги»

О фирме»



 реклама



Прикладная физика и математика

Аннотация к статье
<< Назад
Каскадно-деградационные процессы Часть 3. Каскадно-деградационные процессы: пространственная задача
Никеров В.А.

Последовательно сформулирована аналитическая модель обобщенной диффузии быстрых частиц, позволившая в широком диапазоне энергий частиц и параметров среды рассчитать с точностью 10–30 % среднюю длину пробега вдоль координаты ускоренных электронов и фотонов, а также оценить распределение длин пробега, энерговклад
и время торможения для широкого круга каскадно-деградационных процессов. Эта модель основана на анализе практической применимости предельных случаев диффузионного и прямолинейного распространения быстрых частиц, а также создания обобщенной модели, включающей сшивку предельных случаев. При этом основное внимание
уделено интегральным характеристикам, имеющим наи-
большее значение для распространения быстрых частиц. В качестве основного примера детально рассмотрено торможение нерелятивистских и релятивистских электронных пучков в различных характерных газовых, плазменных и твердых средах. Показаны качественные различия прохождения пучков быстрых частиц через тонкие и толстые
слои вещества, а также особенности отражения пучков от рассеивающих сред. Рассчитаны коэффициенты объемного отражения ускоренных электронов и фотонов от различных сред методом диаграмм, причем в качестве нулевого
приближения использовано прямолинейное приближе-
ние. Определена максимальная толщина тонкого слоя, торможение быстрых частиц в которой осуществляется без существенного искривления траектории. Показано, что использование формул тонких слоев для пробегов в толстых слоях может давать пятикратно завышенные значения.
Существенно, что в соответствии с моделью обобщенной диффузии толщина слоя среднего пятикратного пробега на много порядков ослабляет поток быстрых частиц. Проанализирована характерная ошибка расчетов пробегов электронов, которая связана с некорректностью использования среднего зарядового числа в веществах и смесях,
состоящих из атомов с существенно различным зарядовым числом. Показано, что при этом может иметь место завышение пробегов электронов на 10...23%.
Ключевые слова: ускоренные электроны, фотоны, обобщенная диффузия, прямолинейное приближение, коэффициент объемного отражения.

Контактная информация: E-mail: Vnikerov@hse.ru

Стр. 23-38.

 разделы

«О журнале

«Архив журнала

«Тематическая направленность журнала

«Правила оформления статей

«Этапы рассмотрения и публикации статей

«Правила рецензирования статей

«Редакционная и профессиональная этика

«Обнаружение плагиата

«Редакция и редакционная коллегия

«Новости журнала


 журналы
...................................
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика
...................................
Приборостроение и средства автоматизации. Энциклопедический справочник
...................................
Промышленные АСУ и контроллеры
...................................
Экологические системы и приборы
...................................
Авиакосмическое приборостроение
...................................
Инженерная физика
...................................
История науки и техники
...................................
Музыка и время
...................................
Нотный альбом
...................................
Музыковедение
...................................
Всеобщая история
...................................
Справочник инженера
...................................
Прикладная физика и математика
...................................
Известия академии инженерных наук им. А.М. Прохорова
...................................

Последние новости:

Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге

Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg

Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018»

ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы

Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018"

   Rambler's Top100 Rambler's Top100         


    Система управления разработана в: ananskikh.ru
© Издательство "НАУЧТЕХЛИТИЗДАТ", 2005-2024