 |
реклама |
|
|
|
|
|
|
|
Прикладная физика и математика
Аннотация к статье << Назад
|
СЕГМЕНТАЦИЯ ДЕФЕКТОВ ОКСИДНОГО СЛОЯ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ПОМОЩЬЮ СВЁРТОЧНОЙ НЕЙРОННОЙ СЕТИ |
И.А. ЕЛЬКИН, А.И. ЧУКАВИН, О.Б. БАРЫШЕВ
Подготовлен набор данных и получена свёрточная нейронная сеть, которая с высокой точностью позволяет сегментировать дефекты диэлектрического слоя танталовых металло-оксидных конденсаторов после электрохимического окисления или после снятия катодных слоёв. Показано, что использование модели в режиме скользящего окна и варьирование шага сканирования позволяет повысить точность обнаружения дефектов и анализировать изображения произвольного размера.
Ключевые слова: танталовые конденсаторы, дефекты, глубокое обучение, семантическая сегментация.
DOI: 10.25791/pfim.04.2023.1271
Стр. 65-72. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |
