EN | RU    
Издательство научно-технической литературы
Поиск по сайту:

На главную»

Контакты»

Журналы»

Новости»

Оформление статей»

Реклама в журналах»

Обратная связь»

Книги»

О фирме»



 реклама



Прикладная физика и математика

Аннотация к статье
<< Назад
ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ФЛУКТУАЦИИ И ДЕФЕКТЫ СТРУКТУРЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (ОБЗОР)
Б.И. ЯКУБОВИЧ

Рассмотрена связь электрических флуктуаций с дефектами структуры в твердых телах. Имеется большое количество результатов исследований, указывающих на то, что дефекты являются причиной различных флуктуационных явлений в твердых телах. Изучение этого вопроса является принципиально важным, поскольку с дефектами связано формирование нескольких типов электрических шумов, имеющих фундаментальное значение. Проанализирована связь избыточного низкочастотного, генерационно-рекомбинационного и взрывного шумов с дефектами структуры твердых тел. Рассмотрены экспериментальные результаты. Показаны возможности теоретического объяснения шумов за счет физических механизмов, связанных с дефектами структуры. Всесторонне рассмотрены электрические флуктуации в полупроводниках, вызванные захватом и эмиссией носителей заряда ловушками, образованными дефектами структуры. Флуктуации, обусловленные этой причиной, во многих случаях определяют спектр электрического шума в полупроводниках и полупроводниковых приборах. Представлено количественное описание электрических флуктуаций в полупроводниках, вызванных ловушками. Рассмотрен шум в полупроводниках при флуктуирующем числе ловушек. Учтено влияние деградационных процессов на шум. Проанализирован шум с учетом нагрева полупроводника, вызванного протеканием тока; отмечено, что вследствие нагрева возможно снижение шума. Представлен общий подход к описанию шума в полупроводниках, вызванного ловушками, который может быть применен для анализа различных типов электрических шумов, связанных с этой причиной. Обсуждены особенности шума в полупроводниках, вызываемого дефектами с внутренними степенями свободы и многозарядными ловушками. Отмечено, что развитие представлений об электрических флуктуациях в твердых телах, связанных с дефектами, существенно для более полного описания флуктуационных явлений в твердых телах. Отмечено, что исследования таких флуктуаций значительны в прикладных целях: они способствуют снижению уровня шума в электронных приборах и обеспечению стабильности их работы, а также дают возможность совершенствовать шумовые методы неразрушающего контроля и диагностики электронных приборов.
Ключевые слова: флуктуации, шум, электрические, спектры, твердые тела, полупроводники.


DOI: 10.25791/pfim.04.2019.827

Контактная информация: -

Стр. 03-13.

 разделы

«О журнале

«Архив журнала

«Тематическая направленность журнала

«Правила оформления статей

«Этапы рассмотрения и публикации статей

«Правила рецензирования статей

«Редакционная и профессиональная этика

«Обнаружение плагиата

«Редакция и редакционная коллегия

«Новости журнала


 журналы
...................................
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика
...................................
Приборостроение и средства автоматизации. Энциклопедический справочник
...................................
Промышленные АСУ и контроллеры
...................................
Экологические системы и приборы
...................................
Авиакосмическое приборостроение
...................................
Инженерная физика
...................................
История науки и техники
...................................
Музыка и время
...................................
Нотный альбом
...................................
Музыковедение
...................................
Бюллетень Главного ботанического сада
...................................
Всеобщая история
...................................
Справочник инженера
...................................
Прикладная физика и математика
...................................
Известия академии инженерных наук им. А.М. Прохорова
...................................

Последние новости:

Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге

Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg

Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018»

ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы

Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018"

   Rambler's Top100 Rambler's Top100         


    Система управления разработана в: ananskikh.ru
© Издательство "НАУЧТЕХЛИТИЗДАТ", 2005-2022