Прикладная физика и математика Аннотация к статье << Назад ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ФЛУКТУАЦИИ И ДЕФЕКТЫ СТРУКТУРЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (ОБЗОР) Б.И. ЯКУБОВИЧ Рассмотрена связь электрических флуктуаций с дефектами структуры в твердых телах. Имеется большое количество результатов исследований, указывающих на то, что дефекты являются причиной различных флуктуационных явлений в твердых телах. Изучение этого вопроса является принципиально важным, поскольку с дефектами связано формирование нескольких типов электрических шумов, имеющих фундаментальное значение. Проанализирована связь избыточного низкочастотного, генерационно-рекомбинационного и взрывного шумов с дефектами структуры твердых тел. Рассмотрены экспериментальные результаты. Показаны возможности теоретического объяснения шумов за счет физических механизмов, связанных с дефектами структуры. Всесторонне рассмотрены электрические флуктуации в полупроводниках, вызванные захватом и эмиссией носителей заряда ловушками, образованными дефектами структуры. Флуктуации, обусловленные этой причиной, во многих случаях определяют спектр электрического шума в полупроводниках и полупроводниковых приборах. Представлено количественное описание электрических флуктуаций в полупроводниках, вызванных ловушками. Рассмотрен шум в полупроводниках при флуктуирующем числе ловушек. Учтено влияние деградационных процессов на шум. Проанализирован шум с учетом нагрева полупроводника, вызванного протеканием тока; отмечено, что вследствие нагрева возможно снижение шума. Представлен общий подход к описанию шума в полупроводниках, вызванного ловушками, который может быть применен для анализа различных типов электрических шумов, связанных с этой причиной. Обсуждены особенности шума в полупроводниках, вызываемого дефектами с внутренними степенями свободы и многозарядными ловушками. Отмечено, что развитие представлений об электрических флуктуациях в твердых телах, связанных с дефектами, существенно для более полного описания флуктуационных явлений в твердых телах. Отмечено, что исследования таких флуктуаций значительны в прикладных целях: они способствуют снижению уровня шума в электронных приборах и обеспечению стабильности их работы, а также дают возможность совершенствовать шумовые методы неразрушающего контроля и диагностики электронных приборов. Ключевые слова: флуктуации, шум, электрические, спектры, твердые тела, полупроводники. DOI: 10.25791/pfim.04.2019.827 Контактная информация: - Стр. 03-13.